集成电路测试解决方案

测试板卡设计服务

CP测试方案

FT测试方案

Burn-in测试方案

CP测试解决方案

  • 程序开发与调试，V93K SMT7 SMT8平台转换，以及不同测试机平台转换；
  • 针卡设计与制作，全链路仿真，支持DD、RF等高阶探针卡
  • TEL/TSK Probe，支持三温、车规、Frame测试
  • 配置三温分析探针台、网分、示波器、频谱等仪表，支持相关芯片问题分析
V93000
T2000
T800
3360 P2/3380